结构色谱尺寸测试

检测项目

1.外观尺寸检测：长度，内径，外径，壁厚，高度，端面平整度。

2.颗粒粒径检测：平均粒径，粒径分布，最大粒径，最小粒径，粒径均匀性。

3.孔结构尺寸检测：平均孔径，孔径分布，微孔尺寸，中孔尺寸，大孔尺寸。

4.填料结构参数检测：球形度，长径比，比表面积相关尺寸参数，颗粒堆积间隙，装填密实度。

5.柱管尺寸检测：柱长，柱内通道尺寸，管壁厚度，接口尺寸，同轴度。

6.筛分级配检测：筛上物尺寸范围，筛下物尺寸范围，中位粒径，级配组成，分布集中度。

7.膜层厚度检测：固定相膜厚，涂层均匀性，局部厚度偏差，边缘厚度变化，平均膜层厚度。

8.表面结构检测：表面粗糙度，纹理尺寸，缺陷尺寸，裂纹宽度，孔口形貌尺寸。

9.装填结构检测：床层高度，床层均匀性，空隙尺寸分布，压缩形变量，层间结构一致性。

10.配件尺寸检测：接头尺寸，密封部位尺寸，垫片厚度，过滤片孔径，连接端配合尺寸。

11.截面结构检测：截面厚度，层次结构尺寸，界面宽度，截面孔隙尺寸，边界完整性。

12.稳定性相关尺寸检测：受压后尺寸变化，受温后尺寸变化，浸润后尺寸变化，重复使用后尺寸偏差，尺寸保持性。

检测范围

色谱柱、填料颗粒、硅胶填料、聚合物填料、反相填料、正相填料、离子交换填料、凝胶过滤介质、毛细管柱、预装柱、空柱管、柱接头、过滤片、筛板、密封垫片、分离膜、涂层载体、微球材料

检测设备

1.激光粒度分析仪：用于测定颗粒平均粒径及粒径分布，适合评价填料颗粒的尺寸均匀性。

2.光学显微镜：用于观察颗粒外形、表面结构及局部尺寸，可进行基础几何尺寸测量。

3.电子显微镜：用于观察微观形貌、孔口结构及表面缺陷尺寸，适用于细微结构分析。

4.图像尺寸测量仪：用于测定长度、直径、厚度等参数，适合柱体及配件的非接触尺寸检测。

5.孔径分析仪：用于测定材料孔径及孔径分布，评价多孔分离材料的结构特征。

6.表面粗糙度测量仪：用于检测表面微观起伏尺寸，分析涂层或柱体内壁的表面状态。

7.壁厚测定仪：用于测量柱管或壳体壁厚及厚度均匀性，辅助结构完整性评价。

8.投影测量仪：用于放大观察样品轮廓并测量关键尺寸，适合小型部件截面结构分析。

9.精密测长仪：用于测定柱长、高度及配合尺寸，满足较高尺寸精度要求。

10.厚度测量仪：用于检测膜层、涂层及垫片厚度，测试结构尺寸一致性与使用适配性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.